Metro-CT: v|tome|x m *

Unser phoenix v|tome|x m metrology|edition ist ein vielseitiges mikrofokus Röntgen CT System für 3D Metrologie und Analyse mit 240kV/320W. Im phoenix v|tome|x m ist GE’s einzigartige mikrofokus Röntgenröhre sowohl für industrielle Prozesskontrolle als auch für wissenschaftliche Forschungsprojekte in einem kompakten CT-System verfügbar. Das System bietet eine branchenführende Vergrößerung bei 240 kV mit bis zu < 1 µm Detailerkennbarkeit.

* Seit 2022 ist unsere Metro-CT / Mikro-CT mit einem neuen Detektor ausgestattet (GE Dynamic41)

Features und Vorteile:

Hochpräzise 3D-Metrologie und zerstörungsfreie Prüfaufgaben mit minimaler Schulung der Bediener
Beschleunigte 3D Inspektionszyklen dank leistungsstarker Röntgenröhre, effizienter, schneller Detektortechnologie und hohem Automatisierungsgrad
Sehr hohe Bildqualität dank des einzigartigen GE DXR Detektors mit bis zu 30 Bildern pro Sekunde für eine extrem schnelle CT-Datenerfassung
Alle wesentlichen Hardware- und CT-Software-Komponenten des Systems sind exklusive GE-Technologie und optimal aufeinander abgestimmt
NEU: Der phoenix v|tome|x m ist auch als spezielle Metrologie-Edition erhältlich, mit einer Messgenauigkeit von bis zu 4+L/100 μm entsprechend der VDI 2630 Richtlinie (Gemessen als Kugelabstandsabweichung SD (TS), Details zur Messmethode entsprechend der VDI 2630-1.3 Richtlinie auf Anfrage, gilt nur für die phoenix v|tome|x m Metrologie-Edition)

Wichtige Leistungsmerkmale:

Erstes kompaktes 240 / 300 kV Mikrofokus-CT-System mit bis zu < 1 µm Detailerkennbarkeit und optionaler scatter|correct Technologie

Breites Anwendungsspektrum mit höchster Vergrößerung und Leistung bei 240 / 300 kV für stark absorbierende Proben
Einzigartige optionale dual|tube Konfiguration für leistungsstarke μCT und hochauflösende nanoCT®
Erheblich reduzierte Bedienzeit dank click & measure|CT-Funktion
Optimierte CT Scan Bedingungen durch Temperaturstabilisierung von Röntgenröhre, Detektortechnologie und Messkabine
Max. Probengröße bis zu 500 mm Ø x 600 mm H; 3D Scanvolumen max. 290 mm Ø x 400 mm; bis zu 50 kg Gewicht

Anwendungsbeispiele:

breites Anwendungsspektrum von hoch auflösender nanoCT® schwach absorbierender Proben bis hin zu hochleistungs μCT Anwendungen in der Elektronikfertigung, im Kunststoff- und Leichtmetallguss oder der Turbinenschaufelinspektion
Präzise 3D Metrologie
Wandstärkenmessung
Soll-Ist-Vergleich
Automatische Porenanalyse
von Gussteilen aus Alluminium oder Kunststoff
3D Produktionsprozessüberwachung
Fehleranalyse

Features und Vorteile:

Hochpräzise 3D-Metrologie und zerstörungsfreie Prüfaufgaben mit minimaler Schulung der Bediener

Beschleunigte 3D Inspektionszyklen dank leistungsstarker Röntgenröhre, effizienter, schneller Detektortechnologie und hohem Automatisierungsgrad

Sehr hohe Bildqualität dank des einzigartigen GE DXR Detektors mit bis zu 30 Bildern pro Sekunde für eine extrem schnelle CT-Datenerfassung

Alle wesentlichen Hardware- und CT-Software-Komponenten des Systems sind exklusive GE-Technologie und optimal aufeinander abgestimmt

NEU: Der phoenix v|tome|x m ist auch als spezielle Metrologie-Edition erhältlich, mit einer Messgenauigkeit von bis zu 4+L/100 μm entsprechend der VDI 2630 Richtlinie (Gemessen als Kugelabstandsabweichung SD (TS), Details zur Messmethode entsprechend der VDI 2630-1.3 Richtlinie auf Anfrage, gilt nur für die phoenix v|tome|x m Metrologie-Edition)

Wichtige Leistungsmerkmale:

Erstes kompaktes 240 / 300 kV Mikrofokus-CT-System mit bis zu < 1 µm Detailerkennbarkeit und optionaler scatter|correct Technologie

Breites Anwendungsspektrum mit höchster Vergrößerung und Leistung bei 240 / 300 kV für stark absorbierende Proben

Einzigartige optionale dual|tube Konfiguration für leistungsstarke μCT und hochauflösende nanoCT®

Erheblich reduzierte Bedienzeit dank click & measure|CT-Funktion

Optimierte CT Scan Bedingungen durch Temperaturstabilisierung von Röntgenröhre, Detektortechnologie und Messkabine

Max. Probengröße bis zu 500 mm Ø x 600 mm H; 3D Scanvolumen max. 290 mm Ø x 400 mm; bis zu 50 kg Gewicht

Anwendungsbeispiele:

breites Anwendungsspektrum von hoch auflösender nanoCT® schwach absorbierender Proben bis hin zu hochleistungs μCT Anwendungen in der Elektronikfertigung, im Kunststoff- und Leichtmetallguss oder der Turbinenschaufelinspektion

Präzise 3D Metrologie

Wandstärkenmessung

Soll-Ist-Vergleich

Automatische Porenanalyse
von Gussteilen aus Alluminium oder Kunststoff

3D Produktionsprozessüberwachung

Fehleranalyse